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Superando Los Desafíos De Medición En Semiconductores (Usado)
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Características del producto
Características principales
Título del libro | Overcoming the measurement challenges of advanced semiconductor technologies |
|---|---|
Serie | Tecnologia de Semiconductores |
Autor | Keithley Instruments |
Idioma | Inglés |
Editorial del libro | Keithley |
Edición del libro | 1 |
Tapa del libro | Blanda |
Volumen del libro | 1 |
Con índice | Sí |
Otros
Cantidad de páginas | 140 |
|---|---|
Altura | 22 cm |
Ancho | 14 cm |
Peso | 470 g |
Material de la tapa del libro | Carton |
Con páginas para colorear | No |
Con realidad aumentada | No |
Género del libro | Electronica,Instrumentacion |
Subgéneros del libro | Tecnologia de Semiconductores |
Tipo de narración | TÉCNICO CIENTÍFICO |
Tamaño del libro | Normal |
Colección del libro | Tecnología |
Edad mínima recomendada | 15 años |
Escrito en imprenta mayúscula | No |
Cantidad de libros por set | 1 |
Descripción
Tipo de empastado: Pasta suave
Total de paginas: 140 paginas
Garantía del vendedor: 6 meses
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